LEM:如何解释局部放电现象?

如何解释局部放电现象?

局部放电是发生在部分绝缘部位的放电，经常是在空隙中。

由于绝缘间隙内的小电弧产生的高温和紫外线辐射，绝缘层会被降解。慢慢地，这些间隙内的小孔穴逐渐增多，慢慢形成弧形。最终传感器的初级和次级之间的绝缘完全破坏。

如果绝缘内的间隙增长持续好几年，最终的绝缘破坏却只需要一个或多个电气周期。

局部放电试验的目的是确保LEM传感器的产品寿命。这就保证了固体绝缘（灌封+外壳）所承受的电压应力，从长远来看：

recurring peak voltage重复峰值电压
最高稳态电压
长期的暂态过压

在LEM产品规格书内，我们将标明局部放电熄灭电压UE的值在10pc水平（旧版规格书）或局部放电试验电压Ut（新产品）。

我们建议一定避免出现尖锐的形状（否则可能出现电晕放电的危险）。 

原边导体位于孔径中心
原边导体尺寸：
在LEM内部的常规测试是以最坏的情况也就是原边导体完全充满孔径（与内径表面接触）进行测试的。
特定的原边导体尺寸也可以由用户要求：原边道题尺寸和孔中的位置符合对应的UT值。